Mesures de paramètres de raies (positions, intensités absolues et effets de pression) dans le domaine de l'infrarouge proche, en développant des techniques sensibles et précises utilisant laser et spectromètres à transformée de Fourier ainsi que ICLAS-FT. [Measure line parameters (positions, absolute intensities and pressure effects) in the near infrared range, through development and use of sensitive and precise techniques based on lasers and Fourier transform spectrometers as well as ICLAS-FT. ]