Résolution de problèmes inverses d'imagerie et de scattering [Solution of inverse problems in scattering and imaging]
Etude et développement de méthodes analytiques et numériques pour la résolution de problèmes inverses et analyse de données expérimentales obtenues dans différentes disciplines (optique, microscopie, sondage non destructif de matériaux, imagerie médicale et tomographie). [Development of analytical and numerical methods for solving inverse problems and applications to experimental data processing in various fields (optics, microscopy, non destructive testing of materials, medical imaging and tomography).]
Analyse de séries temporelles et applications en macroéconomie [Time series analysis and applications to macroeconomics]
Ce projet vise d'une part à l'amélioration des techniques de filtrage utilisées en économie pour la discrimination entre cycles et tendances et d'autre part à la mise au point de méthodes temps-fréquence (analyse de Fourier locale) et temps-échelle (analyse en ondelettes) pour l'analyse de séries non stationnaires. [The project aims at the improvement of the filtering techniques used to discriminate between trends and cycles in economic time series and also at the development of time-frequency (local Fourier bases) and time-scale methods (wavelet bases) for non-stationary data.]
Modélisation théorique et analyse d'images en microscopie champ proche [Theoretical modeling and image analysis in near-field microscopy]
En microscopie optique ou acoustique, la détection en champ proche permet de dépasser considérablement la limite classique de résolution de Rayleigh. Le projet vise à l'estimation et à l'amélioration du pouvoir résolvant des microscopes à champ proche, ce qui nécessite, d'une part, de bons modèles théoriques décrivant le processus d'imagerie et, d'autre part, la mise en oeuvre d'algorithmes appropriés pour le traitement de l'image. [In optical or acoustical miscroscopy, near-field imaging techniques allow to considerably enhance the classical far-field Rayleigh resolution limit. The project aims at estimating and improving the resolving power of near-field microscopes. This requires the development of better imaging models and the use of adequate image processing techniques.]